| Số hiệu | TCVN7078-2:2007 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Cơ quan | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 01/01/2007 |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày hiệu lực | 01/01/1970 |
| Tình trạng | Hết hiệu lực |
\r\n\r\n
\r\n\r\n
\r\n\r\n\r\n\r\n
\r\n\r\n
\r\n\r\n
\r\n\r\n
\r\n\r\n
Lời nói đầu
\r\n\r\n
TCVN 7078-2 : 2007
\r\n\r\n
TCVN 7078-2 : 2007
\r\n\r\n
TCVN 7078 gồm các tiêu chuẩn sau, với tên chung An\r\ntoàn bức xạ - Đánh giá nhiễm xạ bề mặt
\r\n\r\n
- TCVN 7078-1:2002 (ISO 7503-1 : 1988) Phần\r\n1: Nguồn phát bêta (năng lượng bêta cực đại lớn hơn 0,15 MeV) và nguồn phát\r\nanpha.
\r\n\r\n
- TCVN 7078-2:2007 (ISO 7503-2 : 1988) Phần\r\n2: Nhiễm xạ triti trên bề mặt
\r\n\r\n
\r\n\r\n
\r\n\r\n
\r\n\r\n
1. Phạm vi và đối tượng áp dụng
\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này áp dụng để đánh giá nhiễm xạ\r\ntriti trên bề mặt thiết bị và cơ sở làm việc, vật chứa vật liệu phóng xạ và\r\nnguồn phóng xạ kín.
\r\n\r\n
Tiêu chuẩn này không áp dụng để đánh giá\r\nnhiễm xạ triti trên bề mặt da và quần áo.
\r\n\r\n
CHÚ THÍCH: Việc đánh giá nhiễm xạ bề mặt từ\r\ncác chất phát bức xạ bêta (năng lượng bức xạ bêta cực đại lớn hơn 0,15 MeV) và\r\ncác chất phát bức xạ anpha được đề cập trong TCVN 7078-1 (ISO 7503-1). Các nhân\r\nphóng xạ quan trọng khác, (ví dụ như các chất phát xạ theo cơ chế bắt điện tử\r\nvà dịch chuyển đồng phân) sẽ được đề cập đến trong tiêu chuẩn khác sau này.
\r\n\r\n
2. Thuật ngữ, định nghĩa
\r\n\r\n
Trong tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và\r\nđịnh nghĩa sau:
\r\n\r\n
2.1. Nhiễm xạ triti trên bề mặt
\r\n\r\n
Tổng hoạt độ của triti hấp phụ trên bề mặt và\r\nhấp phụ trong bề mặt.
\r\n\r\n
2.2. Nhiễm xạ triti trên bề mặt có thể đo\r\ntrực tiếp\r\n(directly measure triti surface contamination)
\r\n\r\n
Phần nhiễm xạ triti trên bề mặt có thể đo\r\ntrực tiếp.
\r\n\r\n
2.3. Nhiễm xạ triti có thể tẩy bỏ được
\r\n\r\n
Phần nhiễm xạ triti có thể tẩy bỏ hoặc chuyển\r\nrời được trong điều kiện làm việc bình thường.
\r\n\r\n
CHÚ THÍCH
\r\n\r\n
1 Định nghĩa cụm từ “điều kiện làm việc bình\r\nthường” là quan trọng trong việc đánh giá rủi ro từ nguy cơ hít vào và bị xâm\r\nnhập chất phóng xạ vào người khi tiếp xúc với các bề mặt nhiễm xạ: “điều kiện\r\nlàm việc bình thường” được hiểu là điều kiện làm việc mà ở đó cường độ cực đại\r\ncủa tác động cơ học có thể dẫn đến tẩy xạ bề mặt được giới hạn ở mức sau:
\r\n\r\n
- Sự tiếp xúc bình thường của cơ thể con\r\nngười (có hoặc không có quần áo bảo hộ) với bề mặt bị nhiễm xạ, và
\r\n\r\n
- Tiếp xúc không phá hủy với cùng một cường\r\nđộ giữa các bề mặt và các bộ phận của thiết bị do con người cầm nắm trực tiếp.
\r\n\r\n
Cường độ tác động trong thử nghiệm lau phải\r\nphù hợp với các dạng tác động cơ học kể trên. Một lần lau sẽ thường không thể\r\nlau hết được tất cả các chất nhiễm xạ có thể tẩy bỏ được.
\r\n\r\n
2. Phải lưu ý rằng:
\r\n\r\n
a) Dưới tác động hóa học từ bên ngoài (ví dụ\r\nnhư độ ẩm, sự ăn mòn…), hoặc các tác động vật lý từ bên ngoài (ví dụ như thay\r\nđổi nhiệt độ hoặc áp suất môi trường xung quanh, rung động, va chạm, co ngót và\r\ndãn nở,…), cũng như quá trình khuyết tán, toàn bộ hoạt độ triti có thể chuyển\r\nthành dạng nhiễm xạ có thể tẩy bỏ được.
\r\n\r\n
b) Phải đánh giá đầy đủ phần nhiễm xạ triti\r\ntrên bề mặt có thể bay hơi hoặc chứa các thành phần dễ bay hơi mà có thể bay\r\nhơi trong điều kiện làm việc thông thường - phần này cũng góp phần vào dạng\r\nnhiễm xạ có thể tẩy bỏ được.
\r\n\r\n
2.4. Hoạt độ trên một đơn vị diện tích
\r\n\r\n
Là tỷ số giữa hoạt độ triti nhiễm xạ bề mặt\r\nvà diện tích của bề mặt đó, (có đơn vị đo là becơren nhân với centimet mũ âm\r\nhai (Bq.cm-2)).
\r\n\r\n
2.5. Đánh giá gián tiếp độ nhiễm xạ triti\r\ntrên bề mặt có thể tẩy bỏ được (indirect evaluation of removable tritium\r\nsurface contamination)
\r\n\r\n
Đánh giá hoạt độ nhiễm xạ triti trên bề mặt\r\ncó thể tẩy bỏ được bằng phương pháp thử nghiệm mẫu lau (vật liệu lau).
\r\n\r\n
2.6. Thử nghiệm mẫu lau
\r\n\r\n
Lấy mẫu nhiễm xạ trên bề mặt có thể tẩy bỏ\r\nđược bằng cách lau trên bề mặt nhiễm xạ sử dụng vật liệu khô hoặc ướt sau đó\r\nđánh giá hoạt độ phóng xạ bám vào vật liệu đã dùng để lau.
\r\n\r\n
CHÚ THÍCH: Trong hầu hết các trường hợp, lấy\r\nmẫu lau ướt thích hợp hơn để xác định nhiễm xạ triti trên bề mặt.
\r\n\r\n
2.7. Hệ số tẩy xạ,
\r\n\r\n
Là tỷ số giữa phần hoạt độ phóng xạ được tẩy\r\nđi khỏi bề mặt bằng một mẫu lau và tổng hoạt độ nhiễm xạ bề mặt có thể tẩy bỏ\r\nđược trước khi lấy mẫu [xem tiêu chuẩn TCVN 7078-1 (ISO 7503-1)].
\r\n\r\n
CHÚ THÍCH - Trong trường hợp đặc biệt, sự kết\r\nhợp của chất nhiễm xạ và vật liệu lau bề mặt thì hệ số tẩy xạ F có thể\r\nxác định gần đúng bằng thực nghiệm khi sử dụng phương pháp “lau nhiều lần để\r\ntẩy sạch hoàn toàn”. Việc cộng lần lượt các kết quả đo hoạt độ tẩy xạ trong các\r\nlần lau cho kết quả gần đúng với tổng hoạt độ có thể tẩy bỏ được, dựa trên giá\r\ntrị này và giá trị thử nghiệm lau lần đầu tiên có thể tính được hệ số tẩy xạ.
\r\n\r\n
3. Phương pháp đánh giá nhiễm xạ bề mặt
\r\n\r\n
3.1. Tổng quan
\r\n\r\n
Vấn đề khó khăn khi xác định triti là quãng\r\nchạy của hạt bêta ngắn, thậm chí ngay cả trong không khí. Triti một đồng vị\r\nphóng xạ của hydro, rất linh động, và có gây ra nhiễm xạ ngoài ý muốn, triti có\r\nthể đâm sâu vào bên trong bề mặt do vậy việc xác định tổng lượng nhiễm xạ triti\r\nbằng phương pháp trực tiếp hoặc gián tiếp gặp rất nhiều khó khăn.
\r\n\r\n
Trong nhiều trường hợp, nhiễm xạ triti tồn\r\ntại dưới dạng của nước bị nhiễm xạ, và nó có thể bay hơi, gây ra hiện tượng\r\nnhiễm xạ triti trong không khí. Do có nhiều thiết bị phát hiện triti lấy mẫu\r\nkhí để xác định hàm lượng triti trong không khí. Bởi vì triti có khả năng\r\nkhuếch tán và hấp thụ vào bề mặt và do tia beta phát ra có năng lượng thấp, cho\r\nnên phải đặc biệt cẩn thận khi đánh giá nhiễm xạ triti trên bề mặt. Tổng độ\r\nnhiễm xạ bề mặt không thể đánh giá chính xác bằng phương pháp đánh giá trực\r\ntiếp hoặc phương pháp đánh giá gián tiếp. Phương pháp đo trực tiếp được thực\r\nhiện bằng thiết bị đo độ nhiễm xạ, phương pháp này không đo được toàn bộ hoạt\r\nđộ hấp thụ bên dưới của bề mặt. Phương pháp gián tiếp được thực hiện bằng việc\r\nthử nghiệm mẫu lau ướt thông thường đưa ra ước tính hợp lí của độ nhiễm xạ bề\r\nmặt có thể tẩy được tại thời điểm thu thập mẫu. Tuy nhiên, triti hấp thụ bên\r\ntrong bề mặt có khuynh hướng khuếch tán trở lại gây tái nhiễm xạ trên bề mặt\r\nđược tẩy xạ một phần hoặc toàn bộ bằng quá trình tẩy xạ hoặc bằng thử nghiệm\r\nmẫu lau. Hơn nữa, nguy hiểm phóng xạ từ triti bay hơi có thể vẫn còn. Để hiểu\r\nrõ hơn về mức độ nguy hại thực sự trong các trường hợp cụ thể việc kết hợp cả\r\nhai phương pháp trực tiếp và gián tiếp phải được sử dụng. Tuy nhiên, trong hầu\r\nhết các trường hợp phương pháp đánh giá thử nghiệm mẫu lau là đủ để đánh giá\r\nmức độ nguy hiểm sinh ra từ sự xâm nhập của chất phóng xạ do tiếp xúc với bề\r\nmặt bị nhiễm xạ triti.
\r\n\r\n
3.2. Đo trực tiếp nhiễm xạ triti
\r\n\r\n
3.2.1. Thiết bị đo
\r\n\r\n
Các thiết bị đo phát hiện trực tiếp nhiễm xạ\r\ntriti trên bề mặt có thể phát hiện được hoạt độ nhiễm xạ có thể tẩy được và\r\nphần hoạt độ bị hấp phụ bên dưới bề mặt. Các detector không có cửa sổ có thiết\r\nkế đặc biệt, ví dụ như detector nhấp nháy và ống đếm tỷ lệ, có thể đo trực tiếp\r\nnhiều dạng nhiễm xạ triti trên các bề mặt khác nhau. Các thiết bị làm thay đổi\r\nnhiệt độ hay áp suất trên bề mặt trong quá trình đo có thể phát hiện được triti\r\nbay hơi hoặc đặc tính khuyếch tán của triti.
\r\n\r\n
Một vấn đề thường gặp phải khi đo là khoảng\r\ncách giữa detector và bề mặt được yêu cầu để phát hiện triti gần nhau, do đó sự\r\nnhiễm xạ trên detector là một vấn đề thường gặp phải. Trong những trường hợp\r\nnhư vậy vật chêm hoặc lớp bọc có thể tháo lắp được sử dụng để ngăn chặn việc\r\nnhiễm xạ trên detector.
\r\n\r\n
3.2.2. Yêu cầu đối với thiết bị đo
\r\n\r\n
Thiết bị đo phải có khả năng phát hiện các\r\nhoạt độ dưới mức giới hạn nhiễm xạ trên bề mặt, để làm được điều đó kết quả đo\r\nmức độ nhiễm xạ trên bề mặt phải được so sánh với mức giới hạn nhiễm xạ trên bề\r\nmặt (các mức giới hạn nhiễm xạ đó được thiết lập bằng quy định quốc gia hoặc\r\nquốc tế, trong trường hợp chưa có các quy định này thì các mức giới hạn nhiễm\r\nxạ cho phép được xác định bằng tiêu chuẩn hoặc sự đồng thuận của cơ sở).
\r\n\r\n
CHÚ THÍCH
\r\n\r\n
1 Vì triti có mức nguy hại sinh học thấp nên\r\nmức nhiễm xạ bề mặt cho phép có thể khá cao, theo khuyến cáo trong tài liệu số\r\n25 của ICRP là 400 Bq.cm-2[1].
\r\n\r\n
2 Đối với các trường hợp đặc biệt khi yêu cầu\r\nmức nhiễm xạ triti trên bề mặt phải giữ ở mức cực kì thấp, các phương pháp phát\r\nhiện nay có thể phát hiện đến 0,4 Bq.cm-2.
\r\n\r\n
3.2.3. Quy trình phát hiện
\r\n\r\n
Lắng nghe sự thay đổi tần số âm thanh, di\r\nchuyển thiết bị trên bề mặt hoặc đặt thiết bị tại các vị trí liên tiếp theo\r\ncách kết hợp các yêu cầu về khoảng cách vận hành và thành phần khí. Chỉ thị âm\r\nthanh là tức thời - không phụ thuộc vào thời gian đáp ứng được sử dụng. Khi\r\nphát hiện vùng nhiễm xạ, đầu đo phải giữ ổn định trên vùng này trong một khoảng\r\nthời gian đủ để khẳng định việc phát hiện có nhiễm xạ.
\r\n\r\n
Trong thực tế để giảm thiểu nguy cơ lan rộng\r\nnhiễm xạ, các khu vực có hoạt độ thấp phải tiến hành kiểm tra trước các khu vực\r\ncó hoạt độ cao.
\r\n\r\n
3.2.4. Quy trình đo
\r\n\r\n
Khi tiến hành đo, phải sử dụng hướng dẫn vận\r\nhành của thiết bị đo và tuân theo các yêu cầu sau:
\r\n\r\n
a) Phải xác định tốc độ đếm phông môi trường\r\nnền ở vị trí đại diện cho khu vực cần khảo sát (ví dụ ở bề mặt được kiểm tra\r\nphải được che bằng giấy sạch);
\r\n\r\n
b) Phải kiểm tra tốc độ đếm phông môi trường\r\nnền thường xuyên vì đầu đầu dò có khả năng bị nhiễm xạ;
\r\n\r\n
c) Việc hiệu chỉnh chức năng của thiết bị\r\nphải được kiểm tra bằng nguồn chuẩn thích hợp. Tần suất: hàng ngày đối với\r\nthiết bị sử dụng thường xuyên, các thiết bị khác cần kiểm tra trước khi sử\r\ndụng. Nếu sai số vượt quá 25% so với giá trị đúng thì phải hiệu chuẩn lại thiết\r\nbị.
\r\n\r\n
d) Có thể cần có vật chêm tháo lắp được.
\r\n\r\n
3.3. Đánh giá gián tiếp nhiễm xạ bề mặt có\r\nthể tẩy được
\r\n\r\n
3.3.1. Tổng quan
\r\n\r\n
Phương pháp gián tiếp đặc biệt thích hợp để\r\nđánh giá nhiễm xạ bề mặt trong đó:
\r\n\r\n
- Khi không cho phép đo trực tiếp (ví dụ như\r\ndo cấu trúc, vị trí,…) hoặc
\r\n\r\n
- Khi nằm trong trường bức xạ ảnh hưởng đến\r\nkết quả đo trực tiếp, hoặc
\r\n\r\n
- Khi có vật liệu che lấp làm giảm cường độ\r\nbức xạ khi đo trực tiếp.
\r\n\r\n
Tuy nhiên, phương pháp gián tiếp không chỉ ra\r\nđược các mối nguy hiểm từ thành phần hơi triti nằm bên dưới bề mặt (xem 3.1 và\r\n3.2.1)
\r\n\r\n
3.3.2. Giới hạn phát hiện
\r\n\r\n
Các đầu đo sử dụng bộ đếm nhấp nháy lỏng và\r\ncác ống đếm không có cửa sổ hiện nay các máy đo nhấp nháy lỏng và các ống đếm\r\nkhông có cửa sổ có thể đo được đến 0,4 Bq và 40 Bq tương ứng (xem chú thích).
\r\n\r\n
Khi lau một diện tích 100 cm2 với\r\nhệ số tẩy xạ F = 0,1 thì mức giới hạn dưới của mức nhiễm xạ triti có thể\r\ntẩy bỏ được trên bề mặt có thể đạt tới 0,04 Bq/cm2 và 4 Bq/cm2\r\ntương ứng.
\r\n\r\n
CHÚ THÍCH: Theo đúng nghĩa, có thể diễn giải\r\ntốt hơn thuật ngữ “giới hạn dưới” được đề cập đến ở trên bằng thuật ngữ “giới\r\nhạn phát hiện dưới” hoặc “hoạt độ phát hiện tối thiểu”. Tuy nhiên, vẫn chưa có\r\nsự thống nhất quốc tế về định nghĩa các thuật ngữ này. Hơn nữa các phương trình\r\ntính các giá trị liên quan là quá phức tạp để được trình bày trong khuôn khổ\r\ncủa tiêu chuẩn này.
\r\n\r\n
3.3.3. Hướng dẫn lấy mẫu
\r\n\r\n
Việc phát hiện và đánh giá nhiễm xạ triti có\r\nthể tẩy bỏ được nên tiến hành bằng cách lấy mẫu lau ướt.
\r\n\r\n
CHÚ THÍCH
\r\n\r\n
1 Bông polystyren là vật liệu lau hiệu quả\r\nngay cả khi không có chất làm ẩm. Một thuận lợi khác nữa là vật liệu này hòa\r\ntan hoàn toàn trong một số chất nhấp nháy lỏng và làm cho hiệu suất đếm cao[2].
\r\n\r\n
2 Nếu nhiễm xạ triti tồn tại dưới dạng hạt\r\nkhông hòa tan trong chất nhấp nháy lỏng (ví dụ như hydrua kim loại) thì có thể\r\nsử dụng phương pháp lau khô để phát hiện triti.
\r\n\r\n
Khi lấy mẫu lau trên diện tích lớn, cần lưu ý\r\ncác điểm dưới đây để xác định phân bố nhiễm xạ:
\r\n\r\n
a) Nếu có thể, diện tích lau phải là 100 cm2;
\r\n\r\n
b) Nếu quy định cho phép lấy mẫu trên diện\r\ntích lớn hơn thì diện tích lấy mẫu và kích thước thực phải đưa vào tính toán\r\nkết quả theo như điều 3.3.4; cần tránh việc lấy mẫu lau trên diện tích rất lớn\r\nchỉ với một mẫu lau vì hệ số tẩy xạ sẽ giảm khi tăng diện tích;
\r\n\r\n
c) Vật liệu lau cần chọn cho phù hợp với bề\r\nmặt sẽ kiểm tra và các yêu cầu đo (ví dụ giấy lọc cho các bề mặt nhẵn, vải bông\r\ncho bề mặt thô ráp);
\r\n\r\n
d) Chất làm ẩm phù hợp tốt nhất là Glyxerin [3],\r\nphải sử dụng cùng với vật liệu lau; chất làm ẩm không được rỉ ra khỏi vật liệu\r\nlau;
\r\n\r\n
e) Tấm lau phải được ấn vừa phải trên bề mặt\r\ncần sau, tốt nhất là dùng bộ đỡ được thiết kế đảm bảo áp lực đồng đều và không\r\nđổi;
\r\n\r\n
f) Phải lấy mẫu toàn bộ trên diện tích 100 cm2;
\r\n\r\n
g) Đối với các phương pháp khác phương pháp\r\ndùng bộ đếm nhấp nháy lỏng, vùng nhạy của detector phải lớn hơn mẫu lau;
\r\n\r\n
h) Tấm lau đo bằng bộ đếm nhấp nháy lỏng phải\r\nđược đặt trực tiếp vào lọ nhỏ trong đó đã có sẵn một lượng thích hợp chất nhấp\r\nnháy lỏng;
\r\n\r\n
i) Các mẫu lau ẩm phải để trong chất lỏng\r\nnhấp nháy khoảng 20 phút trước khi đếm để hoạt độ triti phân bố ổn định;
\r\n\r\n
j) Vật liệu lau chưa sử dụng phải lưu giữ ở\r\nnơi không có triti trong không khí;
\r\n\r\n
k) Nên sử dụng găng tay dùng một lần trong\r\nquá trình thử nghiệm mẫu lau ở những bề mặt bị nhiễm xạ nặng; việc thay đổi\r\ngăng tay có thể cần thiết để tránh gây nhiễm xạ cho mẫu.
\r\n\r\n
3.3.4. Đo mẫu lau
\r\n\r\n
Sử dụng ống đếm tỷ lệ (loại không có cửa sổ\r\nhoặc dòng khí thổi qua) phù hợp hơn đối với các mẫu lau khô, tuy nhiên phương\r\npháp thích hợp nhất và phổ biến nhất để đo các mẫu lau nhiễm xạ triti là sử\r\ndụng bộ đếm nhấp nháy lỏng.
\r\n\r\n
Cần phải cẩn thận khi đưa mẫu lau vào chất\r\nnhấp nháy lỏng:
\r\n\r\n
- Không làm mất quá nhiều ánh sáng do khối\r\nlượng mẫu đo hoặc do hiệu ứng tự tắt dần (queenching effect) của chất nhấp nháy\r\nlỏng, và
\r\n\r\n
- Không gây ra hiện tượng nhấp nháy giả bằng\r\nchất phát quang.
\r\n\r\n
Hoạt độ nhiễm xạ triti trên bề mặt tính cho\r\nmột đơn vị diện tích, AR, nhiễm xạ triti có thể tẩy của bề\r\nmặt đã được tẩy xạ được đo bằng becơren trên xentimét vuông, sự liên quan với\r\nhoạt độ của mẫu lau được đưa ra theo công thức sau đây:
\r\n\r\n
\r\n\r\n
Trong đó:
\r\n\r\n
A là hoạt độ của mẫu lau được đánh giá bằng\r\nmột phương pháp đo nhấp nháy lỏng chuẩn, tính bằng becơren;
\r\n\r\n
F hệ số tẩy xạ;
\r\n\r\n
S diện tích lau, đo bằng centimét bình\r\nphương.
\r\n\r\n
Hệ số tẩy xạ F tốt nhất phải được xác định\r\nbằng thực nghiệm trong điều kiện vận hành, nếu không có điều kiện thực nghiệm\r\nthì phải sử dụng giá trị F = 0,1[3].
\r\n\r\n
4. Báo cáo kết quả đo nhiễm xạ
\r\n\r\n
Khi kết quả thử nghiệm của phép đo nhiễm xạ\r\nbề mặt được yêu cầu báo cáo thì những thông tin sau phải được đưa vào:
\r\n\r\n
a) Ngày tháng;
\r\n\r\n
b) Sơ đồ vị trí nhiễm xạ và các điểm lấy mẫu;
\r\n\r\n
c) Loại bề mặt để đo bằng phương pháp gián\r\ntiếp;
\r\n\r\n
d) Vật liệu lau (khô hoặc ướt);
\r\n\r\n
e) Chất làm ẩm;
\r\n\r\n
f) Hệ số tẩy xạ để đánh giá gián tiếp (được\r\nđo trực tiếp hoặc giả định);
\r\n\r\n
g) Thiết bị sử dụng;
\r\n\r\n
h) Ngày hiệu chuẩn;
\r\n\r\n
i) Thiết bị đo độ nhiễm xạ (trên bề mặt hoặc\r\ntại mẫu lau);
\r\n\r\n
j) Số đo phông môi trường;
\r\n\r\n
k) Tính toán hoạt độ nhiễm xạ có thể tẩy trên\r\nmột đơn vị diện tích;
\r\n\r\n
l) Ghi chú về khu vực nhiễm xạ;
\r\n\r\n
m) Các kết quả quan sát khác (có hoạt độ\r\nphóng xạ bay hơi,…);
\r\n\r\n
n) Tên người thực hiện.
\r\n\r\n
\r\n\r\n
\r\n\r\n
[1] ICRP Publication 25, The Handling,\r\nStorage, Use and Disposal of Unsealed Radionuclides in Hospital and Medical\r\nResearch Establishments, Annals of ICRP, 1, No. 2, #177, 1977.
\r\n\r\n
[2] SLOBDIEN, M. J. và GRANLUND,\r\nR. W. Extruded-Expanded Polystyrene - A smear Material for Use in Liquid\r\nScintillation Counting, Health Physics (Pergamon Press), 27,\r\ntháng 7/1974: trang 128-129.
\r\n\r\n
[3] EAKINS J. D. và HUTCHINGSON,\r\nW. P. The Radiological Hazard from Tritium Absorbed on Metal\r\nSurfaces, Part 2: The estimation of the Level of Tritium Contamination on Metal\r\nSurfaces by Smearing, AERE-R-5988, 1969.
\r\n\r\n
\r\n\r\n\r\n\r\n\r\n"
Mục lục bài viết
- 1 Được hướng dẫn
- 2 Bị hủy bỏ
- 3 Được bổ sung
- 4 Đình chỉ
- 5 Bị đình chỉ
- 6 Bị đinh chỉ 1 phần
- 7 Bị quy định hết hiệu lực
- 8 Bị bãi bỏ
- 9 Được sửa đổi
- 10 Được đính chính
- 11 Bị thay thế
- 12 Được điều chỉnh
- 13 Được dẫn chiếu
- 14 Hướng dẫn
- 15 Hủy bỏ
- 16 Bổ sung
- 17 Đình chỉ 1 phần
- 18 Quy định hết hiệu lực
- 19 Bãi bỏ
- 20 Sửa đổi
- 21 Đính chính
- 22 Thay thế
- 23 Điều chỉnh
- 24 Dẫn chiếu
Văn bản liên quan
Được hướng dẫn
Bị hủy bỏ
Được bổ sung
Đình chỉ
Bị đình chỉ
Bị đinh chỉ 1 phần
Bị quy định hết hiệu lực
Bị bãi bỏ
Được sửa đổi
Được đính chính
Bị thay thế
Được điều chỉnh
Được dẫn chiếu
Văn bản hiện tại
| Số hiệu | TCVN7078-2:2007 |
| Loại văn bản | Tiêu chuẩn Việt Nam |
| Cơ quan | Đã xác định |
| Ngày ban hành | 01/01/2007 |
| Người ký | Đã xác định |
| Ngày hiệu lực | 01/01/1970 |
| Tình trạng | Hết hiệu lực |
Văn bản có liên quan
Hướng dẫn
Hủy bỏ
Bổ sung
Đình chỉ 1 phần
Quy định hết hiệu lực
Bãi bỏ
Sửa đổi
Đính chính
Thay thế
Điều chỉnh
Dẫn chiếu
Văn bản gốc PDF
Đang xử lý
Văn bản Tiếng Việt
Đang xử lý
.
